2017年10月18日， 2017年全国电子显微学学术年会在成都星宸皇家金煦酒店隆重召开。学术年会为期三天，吸引了近900人来自大专院校、科研院所、企业等单位的代表出席。学术年会旨在帮助大家了解电子显微学及相关仪器技术的前沿发展，促进基础研究与应用研究最新进展的交流。

大会会场

  本次学术年会主要由大会报告和八个分会场报告组成，为了不影响大会效果，大会报告与分会场报告从时间顺序上穿插进行。18日上午，首先进行大会报告的上半部分，十位国内外著名学者、相关仪器设备厂商专家依次做了精彩报告。

中国电子显微镜学会理事长 韩晓东 主持大会开幕式

中国科学院院士、学术年会主席 张泽 致开幕辞并作报告

报告题目：外场环境下材料表面结构的原位显微学研究

  致开幕辞并对与会者表示欢迎后，张泽为大家分享了第一个报告。受温度、气压、气氛等使用环境的作用，固体表面将会发生气体吸附、原子迁移、应力变化等结构变化，从而给其物理/化学的精准解释带来困难与挑战。针对此类科学问题，张泽团队创新性将气氛等外场环境引入高真空工作的电子显微镜中，在纳米甚至原子分辨率下，研究苛刻环境下固体表面精细结构的演变及其对物理化学性能的影响，为高性能材料的设计与制备提供可靠的科学依据。

  报告中分三部分讲述了环境对表面结构的影响，第一部分只考虑温度影响，研究温度的升高促使材料表面重构及相变;第二部分同时考虑温度与气体对材料表面的影响，介绍不同气氛环境下材料表面结构的演变过程;第三部分同时考虑温度与气压对材料的影响，讲述气压对纳米颗粒形貌的显著影响。

报告人：Professor Yuichi Ikuhara (University of Tokyo，Japan)

报告题目：Mechanical and chemical dynamics of interface phenomena in oxides

  目前，有关金属位错现象的研究很多，但多是关于静态条件下的，动力学相关研究亟待开展。在报告中，Yuichi Ikuhara介绍了其团队关于SrTiO3的单晶和双晶在TEM中的原位纳米压痕实验。双晶实验发现，位错是否穿过GB主要与晶界本身特性有关。锂在负极材料中的扩散行为对其大倍率充放电性能有着很大影响，在对于锂离子扩散机理的研究中发现，中间相对于愈合晶体开裂发挥着重要作用。

报告人：Dr. Marc Peeters (Thermo Fisher Scientific /FEI)

报告题目：Thermo fisher scientific’s vision on multi-scale and multi-modal analysis

  FEI 隶属于Thermo Fisher Scientific ，Marc Peeters首先向大家介绍了Thermo Fisher Scientific目前的整体情况。公司年销售额180亿美元，每年用于产品研发超过8亿美元，拥有约55,000多名员工。旗下主要含5个首要品牌Thermo Scientific、Applied Biosystems、Invitrogen、Fisher Scientific和Unity Lab Services。主要的四大业务生命科学、工业和应用科学、临床和诊断、实验室解决方案的业务销售额百分比依次为：28%、20%、17%、35%。接着分别介绍了公司所提供的解决方案、在中国推出的重磅新品等。电子显微学相关设备包括Quattro ESEM、Talos F200i等。

报告人：章新政 研究员 (中国科学院生物物理研究所)

报告题目：单颗粒算法的理论分辨率极限的突破

  随着近几年软、硬件的发展，冷冻电镜单颗粒三维重构法的应用范围以及分辨率得到了极大的扩展和提升，成为了解析和生命活动密切相关的重要蛋白质及其高分辨三维结构的重要工具之一。然而，单颗粒法三维重构理论建立在中央截面定量上，遵循弱相位近似及高压近似，这些近似对于生物样品在高频信号区难以得到满足。报告中，章新政利用理论模拟结合单颗粒重构算法对单颗粒法的理论分辨极限进行了探索，确定了不同大小样品在不同加速电压电镜中的三维重构分辨率极限。同时，用自己提出的block-based三维重构算法来弥补相位栅近似的破坏，实验数据证明成功解决了Ewald球效应，突破了相位栅近似引起的冷冻电镜单颗粒法的理论分辨率极限。

报告人：Dr.Masaki Mukai (日本电子(捷欧路(北京)科贸有限公司))

报告题目：日本电子电镜最新技术进展

  日本电子株式会社(JEOL)是世界顶级科学仪器制造商，主要产品有透射电子显微镜、扫描电子显微镜、扫描探针显微镜、电子探针、核磁共振谱仪、质谱、电子自旋共振谱仪、能谱、X荧光光谱仪等大型尖端设备。2010年，日本电子株式会社在中国成立了独立法人的全资子公司--捷欧路(北京)科贸有限公司。Masaki Mukai在报告中从其不同电镜产品角度分别介绍了日本电子电镜最新技术的进展，其中重点介绍了最新推出新产品JEM-ARM200F，该产品具有特点包括：冷场发射电子枪、欧米伽能量过滤器、最高加速电压300kV、自动进样装置等。

报告人：Professor Rafal E. Dunin-Borkowski (Ernst Ruska-Centre

for Microscopy and Spectroscopy with Electrons，Forschungszentrum Jülich)

报告题目：Direct measurement of magnetization distributions in nanoscale materials in the transmission electron microscope

  透射电镜技术近来已取得革命性发展，不仅体现在引入了像差校正等硬件，也包括一系列新技术的发展。报告中，Rafal E. Dunin-Borkowski主要介绍了在纳米空间分辨率条件下，通过透射电镜在获得表面形貌、化学结构的同时，如何进一步得到磁化信息。

报告人：林金星 教授(北京林业大学)

报告题目：：植物细胞壁成份的无标记原位分析

  林金星首先介绍了细胞壁的定义、广泛作用，及其结构。接着，讲解了细胞壁的主要检测方法。过去主要依赖于大样本化学分析，即将大量植物细胞进行粉碎、分离和检测。这种技术固然可以反映大样本的成分变化趋势，但无法精确分析单个细胞，或者某些细胞的成分变化。接着简要介绍了细胞壁成分无标记原位检测技术，包括分光光度计技术、傅里叶红外光谱技术、拉曼光谱技术、受激拉曼散射技术等。同时，结合植物发育过程，介绍了这些技术的优缺点。

报告人：Dr. Osamu Takagi (天美(中国)科学仪器有限公司+日立高新技术公司)

报告题目：New technologies of Hitachi FIB-SEM

  Dr. Osamu Takagi主要讲解了三方面内容：利用高强度CFE源作为高分辨成像和端点检测;双/三梁结构系统配置ACE技术对于先进材料的加工是可行的;日立高新自1986年开始生产商业化FIB，最新推出的FIB-SEM系列产品十分适合当前最新领域的研究(型号包括：NX2000、ETHOS、NX9000)。

报告人：曹潇潇 博士(美国 Gatan 公司-中国科扬贸易公司)

报告题目：Gatan 最新 Rio 系列 CMOS 相机

  据曹潇潇介绍，Gatan最新推出的CMOS成像系统，针对30-200kV电压设计，在成像应用和原位应用领域带来像质提升和流畅的实验体验。其应用包括高分辨成像应用、衍射成像应用、生命科学应用、原位电镜应用等。最后分享了如何为透射电镜选择正确的相机，其建议包括电镜功能及数据质量很大程度上由相机质量决定、高像素相机的成像质量不一定由于低像素相机、软件对于相机性能至关重要等。

报告人：邹晓冬 教授 (Department of Materials and Environmental Chemistry，Stockholm University)

报告题目：Automated electron diffraction techniques for phase analysis and structure determination

  电子晶体学是一种进行相分析和结构测定的重要技术，邹晓冬团队在开发新的电子晶体学方法方面进行了多年的研究。在报告中，首先介绍了几种解析多孔材料三维结构的方法：①旋转电子衍射(Rotation electron diffraction, RED)，②结合一系列不同取向的高分辨透射电子显微学(HRTEM)图像进行三维重构，③电子断层成像(Electron Tomography)等。接着，分享了该团队近来的一些研究进展，包括为了克服当前电子晶体学在相分析和结构测定中的不足，开发的一些新的电子晶体学新方法：即从RED到cRED，再到SX-ED等。

大会合影留念